ZEISS O-INSPECT duo tilbyr to teknologier i én og samme maskin:

Store arbeidsstykker som kretskort, brenselceller eller batterier kan både inspiseres metrologisk og inspiseres i høy oppløsning uten å skjære. Kombinasjonen av 3D-måleteknologi og mikroskopisk inspeksjon øker effektiviteten og sparer plass i kvalitetslaboratorier. ZEISS O-INSPECT duo er tilgjengelig i størrelse 8/6/3.

2-i-1: Mikroskop og måleinstrument i én og samme maskin
Raske og presise 3D-målinger - optiske og taktile
Høyoppløselig optikk med ekstra inspeksjonsprogramvare ZEISS ZEN core


Det første multiteknologisystemet fra ZEISS

ZEISS O-INSPECT duo er et målemikroskop som dekker to viktige bruksområder innen kvalitetssikring: Nøyaktig måling og høyoppløselig inspeksjon av store eller mange små komponenter. Apparatet er også spesialutviklet for bruksområder som krever en kombinasjon av tredimensjonal måling og inspeksjon - inkludert segmentering, stitching og bildebehandling på fargebildet. Kvalitetslaboratorier trenger nå bare én maskin i stedet for en måleenhet og et mikroskop, noe som sparer plass og systemkostnader. Finn ut hvilke andre fordeler den multifunksjonelle enheten gir de respektive områdene.

Måleteknologi Mikroskopi
Målinger med høy presisjon - taktile og optiske

Høy nøyaktighet for flate og følsomme arbeidsstykker
ZEISS O-INSPECT duo er en multisensor-måleenhet som imponerer med sin høyoppløselige optikk kombinert med den taktile skanningssensoren ZEISS VAST XXT. Den taktile sensoren muliggjør raske og presise 3D-målinger ved å fange opp et stort antall målepunkter i én enkelt bevegelse.

Følsomme komponenter kan måles uten kontakt ved hjelp av ZEISS O-INSPECT duo - med utmerket nøyaktighet og en betydelig reduksjon i måletiden takket være ZEISS VAST-probing (ZVP). Dette er mulig takket være den høye oppløsningen ved en svært stor arbeidsavstand, ikke bare for flate arbeidsstykker eller prøver.