Ved å utnytte avansert datalaminografi og integrert AI-teknologi gir Comet Yxlon høyoppløselige 3D-røntgenfunksjoner for detaljert testing av avansert pakking av integrerte kretser. For første gang har halvledermarkedet nå et ikke-destruktivt supplement eller alternativ til konvensjonelle destruktive metoder. Tredimensjonale røntgenbilder med en oppløsning på mindre enn 1 μm kan på en pålitelig måte identifisere typiske defekter i 3D-IC-loddeforbindelser, for eksempel manglende og overbygde bumper, hulrom, ikke-våte, head-in-pillow, bump shift og avvik i avstandshøyde eller deformasjoner. Moderne analyseprogramvare basert på dyp læring overtar den automatiske evalueringen, inkludert rapportgenerering i henhold til brukerens krav. Det nye røntgeninspeksjonssystemet CA20 gir derfor halvlederindustrien et helt nytt nivå av sikkerhet og effektivitet.

Halvledere har blitt en integrert del av vår nettverksbaserte verden. Det stiller store krav til produsentene, ettersom innovasjonssyklusene blir kortere og kortere samtidig som kompleksiteten i de integrerte kretsene stadig øker. For å holde seg konkurransedyktige er det særlig fokus på å redusere investeringskostnadene og akselerere oppstartsprosessene for å oppnå feilfri produksjon av nye komponenter med høy ytelse raskere. Tidlig identifisering av kritiske feil fremskynder utviklingen og optimaliseringen av nye produksjonsprosesser og dermed produksjonsoppstarten av nye chipgenerasjoner betraktelig.

Med inspeksjonssystemet CA20 har Comet Yxlon tatt 3D-røntgenteknologien for avansert halvlederemballasje til et helt nytt nivå. Den fullstendig redesignede maskinvaren, som er optimalisert for halvlederapplikasjoner når det gjelder stabilitet, avbildning, presisjon og vedlikeholdskrav, Comet Yxlon GmbH Side 2 av 3 kombinert med høyoppløselig computerlaminografi og programvarepakker som Dose Manager, Batch Manager og "Insights" for automatiserte evalueringer, sikrer nøyaktighet, pålitelighet og effektivitet for alle inspeksjonsoppgaver. Det er enkelt og intuitivt å få tilgang til alle funksjoner via Geminy-brukergrensesnittet som har bevist sin verdi i produktseriene Comet Yxlon FF og UX, med grafiske symboler, veivisere og ulike forhåndsinnstillinger for alle ferdighetsnivåer.

"Den nye CA20 vil revolusjonere halvlederindustrien som en medfølgende inspeksjonsmetode allerede i forskning og utvikling av nye mikrobrikker og produksjonsprosesser," sier Christian Driller, Vice President R&D i Comet Yxlon. "CA20 vil sørge for at ramp-up-prosesser og time-to-market akselereres dramatisk, den nåværende høye kassasjonsraten vil bli redusert, og utbyttet vil dermed øke betydelig. Systemet bringer nullfeilsmålet innen rekkevidde."

I går ettermiddag lanserte Comet Yxlon systemet offisielt med live-demonstrasjoner og inviterte gjester. Under ulike presentasjoner på konferansen hadde Stephan Haferl (CEO Comet), Dionys van de Ven (President Comet Yxlon), Isabella Drolz (Vice President Product Marketing Comet Yxlon) og Christian Driller allerede tidligere referert til den viktige begivenheten. Den nye standplasseringen i hall B2, som deles av productronica og Semicon Europa side om side, viser hvor Comet Yxlons reise går: De minste feilene er de største utfordringene i dagens verden, og Comet Yxlon synliggjør dem med sin teknologi i tråd med løftet: Se bedre. Raskere. Les mer.